昆明理工大學“飛行時間二次離子質譜儀”通過驗收

3月15日，昆明理工大學資產管理處組織專家組，對飛行時間二次離子質譜儀(TOF.SIMS-5)進行驗收。在逐一核實設備部件，配件型號、數量，質量分析器的動態離子能量擴展技術(EDR)後，專家組認為，該設備安裝齊全，設備性能和EDR指標均已達到合同指標，通過終極驗收。同時，專家組在設備的維護和管理、設備性能的開發利用等方面提出了一些意見和建議。截止目前，學校單價500萬元以上的儀器設備已達到5臺套。

飛行時間二次離子質譜儀(TOF.SIMS-5)主要用於礦物表面深度剖析、表面化學藥劑吸附層厚度、表面微量組分、表面有機物吸附推測、表面3D表徵及成像等表面微觀研究。在進一步熟練設備操作和性能後，TOF.SIMS-5將正式投入使用，在礦物加工工程、礦物學、材料學、生命科學等專業的實驗教學與科研工作中發揮積極作用。